IEC 63068-4-2022 PDF
Название на английском:
St IEC 63068-4-2022
Название на русском:
Ст IEC 63068-4-2022
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых устройств - Часть 4- Процедура выявления и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптического контроля и фотолюминесценции. IEC 63068-4:2022-07(en). Оригинальный стандарт IEC 63068-4-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4- Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence. IEC 63068-4:2022-07(en). Original standard IEC 63068-4-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
30
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec07908
More technical details are being prepared for this document.