IEC 63068-3-2020 PDF
Название на английском:
St IEC 63068-3-2020
Название на русском:
Ст IEC 63068-3-2020
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых устройств - Часть 3- Метод проверки дефектов с использованием фотолюминесценции. IEC 63068-3:2020-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 63068-3-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3- Test method for defects using photoluminescence. IEC 63068-3:2020-07(en-fr). Original standard IEC 63068-3-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
56
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec07907
More technical details are being prepared for this document.