IEC 63068-2-2019 PDF
Название на английском:
St IEC 63068-2-2019
Название на русском:
Ст IEC 63068-2-2019
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых устройств - Часть 2- Метод проверки дефектов с использованием оптического контроля. IEC 63068-2:2019-01(en). Оригинальный стандарт IEC 63068-2-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2- Test method for defects using optical inspection. IEC 63068-2:2019-01(en). Original standard IEC 63068-2-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
30
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec07906
More technical details are being prepared for this document.