CIE x040-2014 PDF
Название на английском:
St CIE x040-2014
Название на русском:
Ст CIE x040-2014
Описание на русском:
Частичный файл (обложка/оглавление): Материалы экспертного симпозиума CIE по неопределенностям измерений в фотометрии и радиометрии для промышленности, сентябрь 2014 г., Вена, Австрия. Оригинальный документ CIE x040-2014 в PDF, точный частичный файл. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Partial carrier (cover/contents): Proceedings of CIE Expert Symposium on Measurement Uncertainties in Photometry and Radiometry for Industry, September 2014, Vienna, Austria. Original document CIE x040-2014 in PDF exact partial carrier. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
78
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
8 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stcie000274
More technical details are being prepared for this document.