Стандарты Молдовы PDF

Метод измерения диаметра полупроводниковых пластин (отменён в 2001 году). Оригинальный стандарт ASTM F613-93 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Метод определения искажений оптических линз, используемых при изготовлении фотошаблонов. Оригинальный стандарт ASTM F614-80 (1991)e1 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен

Стандартная практика определения безопасных областей работы металлизации полупроводниковых компонентов при импульсном токе (метрическая система) (отменено в 2022 г.). Оригинальный стандарт ASTM F615M-95 (2013) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Стандартный метод измерения тока утечки стока MOSFET (метрические единицы) (отменён в 2009 году). Оригинальный стандарт ASTM F616M-96 (2003) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Стандартный метод измерения линейного порогового напряжения MOSFET (отменён в 2006 году). Оригинальный стандарт ASTM F617-00 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Withdrawn

Стандартный метод измерения порогового напряжения MOSFET в линейном режиме [Метрическая система]. Оригинальный стандарт ASTM F617M-95 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий