Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Наилучшие доступные технологии. Методические рекомендации по описанию наилучших доступных технологий в информационно-техническом справочнике по наилучшим доступным технологиям
1 200 руб.
Задайте вопрос эксперту
Сообщение отправлено
Ваше сообщение отправлено. Наши специалисты скоро свяжутся с вами. Спасибо!